本發(fā)明公開了一種電纜接頭絕緣狀態(tài)評(píng)估方法,該方法包括:建立電纜接頭絕緣內(nèi)部氣隙缺陷放電的控制方程;分析電纜接頭絕緣內(nèi)部氣隙放電過(guò)程中的微觀粒子化學(xué)反應(yīng);依據(jù)所述控制方程和微觀粒子化學(xué)反應(yīng)建立電纜接頭放電的等離子體化學(xué)模型;對(duì)電纜接頭放電的等離子體化學(xué)模型進(jìn)行求解,評(píng)估電纜接頭絕緣裂化狀態(tài)。該方法實(shí)現(xiàn)獲取電纜接頭絕緣狀態(tài)。
聲明:
“電纜接頭絕緣狀態(tài)評(píng)估方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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