本發(fā)明涉及
電化學(xué)中的腐蝕防護(hù),具體地說是一種評估點(diǎn)蝕坑內(nèi)部腐蝕產(chǎn)物對點(diǎn)蝕生長速率影響的方法。具體為:以微電極的電化學(xué)體系為背景,利用恒電位對微電極進(jìn)行陽極極化,獲得點(diǎn)蝕坑底部到點(diǎn)蝕外部的一維擴(kuò)散,通過對有和無腐蝕產(chǎn)物條件下的陽極電流進(jìn)行測量和對比,評估點(diǎn)蝕內(nèi)部腐蝕產(chǎn)物對點(diǎn)蝕生長速率的影響。本發(fā)明方法通過操作簡便的電化學(xué)方法即可得出點(diǎn)蝕內(nèi)部腐蝕產(chǎn)物對物質(zhì)擴(kuò)散的影響,進(jìn)而量化點(diǎn)蝕內(nèi)部的腐蝕產(chǎn)物對點(diǎn)蝕生長速率的影響,由此對擴(kuò)散系數(shù)進(jìn)行修正,完善點(diǎn)蝕生長和預(yù)測模型。點(diǎn)蝕內(nèi)部生成腐蝕產(chǎn)物是比較常見的現(xiàn)象,生成腐蝕產(chǎn)物的原因也多種多樣,而文獻(xiàn)中卻無對其影響進(jìn)行量化的方法。這種簡單的實(shí)驗(yàn)方法對點(diǎn)蝕生長和預(yù)測模型的建立具有重要的參考價(jià)值。該方法操作簡便,應(yīng)用范圍廣泛,適用于多種金屬和多種條件。
聲明:
“評估并量化點(diǎn)蝕坑內(nèi)部腐蝕產(chǎn)物對點(diǎn)蝕生長速率影響的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)