本申請?zhí)峁┝艘环N水平井的井眼軌跡校正方法、裝置、設(shè)備和存儲介質(zhì),屬于石油勘探與開發(fā)技術(shù)領(lǐng)域。方法包括:基于化學(xué)元素參數(shù)和筆石參數(shù),分別確定待研究儲層的巖相圖和筆石圖;基于巖相圖和筆石圖,確定第一對比圖;基于筆石圖和第一測井曲線,確定第二對比圖;基于待研究儲層的每個地層的化學(xué)元素參數(shù),確定待研究儲層的目標(biāo)儲層;基于第一對比圖,確定目標(biāo)儲層的目標(biāo)巖相類型和目標(biāo)筆石類型;基于第二測井曲線、第二對比圖、隨鉆曲線和隨鉆解釋曲線,確定鉆井地層的巖相類型和筆石類型;基于鉆井地層的巖相類型和筆石類型與目標(biāo)巖相類型和目標(biāo)筆石類型的差別,調(diào)整目標(biāo)井的井眼軌跡,使井眼軌跡對準(zhǔn)目標(biāo)儲層,提高了待研究儲層的開發(fā)效率。
聲明:
“水平井的井眼軌跡校正方法、裝置、設(shè)備和存儲介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)