本發(fā)明屬于輻照管道束流分布測量技術(shù),具體涉及一種用核孔膜確定單粒子效應(yīng)專用輻照管道束流分布的方法。該方法將經(jīng)重離子束流輻照后的核孔膜進(jìn)行化學(xué)蝕刻;確定管道束流的束斑大小尺寸;利用在光學(xué)顯微鏡上安裝的攝像頭采集蝕刻后的核孔膜的圖像,將圖像傳送到安裝有視頻采集卡的計(jì)算機(jī)上;在束斑的大小范圍內(nèi),通過網(wǎng)格區(qū)域的劃分,依次存取每個單元格內(nèi)的圖像;統(tǒng)計(jì)每個單元格圖像上的離子點(diǎn)數(shù),確定束流的均勻性。該方法操作簡單,實(shí)現(xiàn)成本低,測量效果完全滿足抗單粒子效應(yīng)性能評估試驗(yàn)的需要。
聲明:
“用核孔膜確定單粒子效應(yīng)專用輻照管道束流分布的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)