本發(fā)明涉及透射電子顯微鏡配件及低維材料原位測量研究領(lǐng)域,具體為一種透射電子顯微鏡用原位電學(xué)樣品桿系統(tǒng)。該系統(tǒng)包括:用于傳導(dǎo)電信號的高真空圓形氣密連接器、表面絕緣的中空樣品桿框架、置于樣品桿框架內(nèi)的導(dǎo)線、陶瓷加熱片、熱敏電阻、控溫單元、加熱
芯片等。熱敏電阻和陶瓷加熱集成于微型樣品臺上,通過導(dǎo)線和圓形氣密連接器與外部電路單元連接,用于監(jiān)控微型樣品臺的加熱溫度、加熱速率和溫度穩(wěn)定性;加熱芯片置于微型樣品臺上,可進(jìn)一步對樣品微區(qū)進(jìn)行溫度調(diào)控。本發(fā)明最大限度地實(shí)現(xiàn)在真空環(huán)境中和加熱、加電外場條件下對材料宏觀性能的原子尺度測量與研究,廣泛適用于探究各種高溫相變、電學(xué)性能、熱電性能、化學(xué)反應(yīng)等。
聲明:
“透射電子顯微鏡用原位電學(xué)樣品桿系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)