本發(fā)明屬于電壓工程技術領域,尤其涉及一種多原子分子電子碰撞電離截面的計算方法。本發(fā)明提供了一種多原子分子電子碰撞電離截面的計算方法,包括以下步驟:步驟1:選擇CF
3CN分子作為測試分子,計算其電子碰撞電離截面,篩選出分子結構計算方法;步驟2:在量子化學軟件中搭建C
4F
7N分子模型;步驟3:優(yōu)化分子結構;步驟4:計算分子軌道參數;步驟5:確定參與碰撞過程的分子軌道數量;步驟6:基于修正后的BEB公式計算分子的總電子碰撞電離截面。本發(fā)明解決了現(xiàn)有技術中計算出的電子碰撞電離截面往往大于實驗值的技術問題。
聲明:
“多原子分子電子碰撞電離截面的計算方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)