本發(fā)明公開了一種粉碎產(chǎn)品粒度分布的表征方法,包括對(duì)粉碎產(chǎn)品做篩析、確定粒度上界、計(jì)算參數(shù)、得到有上界的對(duì)數(shù)正態(tài)分布函數(shù)等步驟。本發(fā)明解決了確定粒度上界的問題,使有上界的對(duì)數(shù)正態(tài)分布不局限于表征粒度上界明確的窄粒級(jí)顆粒床壓載粉碎產(chǎn)品的碎裂函數(shù),還可用于描述需要定義粒度上限的粉碎產(chǎn)品粒度分布;本發(fā)明使用有上界的對(duì)數(shù)正態(tài)分布函數(shù)可表征對(duì)輥破碎產(chǎn)品及球磨磨礦產(chǎn)品的粒度分布,精度高,應(yīng)用效果好。
聲明:
“粉碎產(chǎn)品粒度分布的擬合方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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