本實(shí)用新型公開了用于X射線無損檢測的立式送檢線,其特征在于:包括鉛房、送檢線,所述鉛房內(nèi)設(shè)置有檢測線,鉛房上具有進(jìn)口和出口,所述送檢線與檢測線組成環(huán)形輸送線,所述環(huán)形輸送線上運(yùn)載有托盤,所述鉛房的左右兩側(cè)壁上分別設(shè)置有相對布置的射線發(fā)射機(jī)構(gòu)和射線接收機(jī)構(gòu),所述射線發(fā)射機(jī)構(gòu)包括射線發(fā)射光管,所述射線接收機(jī)構(gòu)包括射線接收平板,所述射線發(fā)射光管的射線發(fā)出口與所述射線接收平板始終正對,所述托盤上嵌設(shè)有轉(zhuǎn)盤,本實(shí)用新型的有益效果包括:適用于大件立式工件自動檢測,檢測效率高,換件等待時間短,射線檢測設(shè)備利用率高,上下料遠(yuǎn)離檢測區(qū),更安全,工件可轉(zhuǎn)動實(shí)現(xiàn)多角度多位置的檢測,滿足復(fù)雜結(jié)構(gòu)件的射線檢測要求。
聲明:
“用于X射線無損檢測的立式送檢線” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)