一種基于壓電阻抗法的熱障涂層熱生長(zhǎng)氧化層無損檢測(cè)方法,屬于材料無損檢測(cè)與評(píng)價(jià)技術(shù)領(lǐng)域。該系統(tǒng)由阻抗分析儀、壓電晶片、涂層試樣、計(jì)算機(jī)等組成。首先利用強(qiáng)力膠將壓電晶片固定到涂層試樣待檢測(cè)部位,焊接導(dǎo)線并校正阻抗分析儀。然后利用阻抗分析儀在兆赫級(jí)頻帶內(nèi),對(duì)壓電晶片進(jìn)行電阻抗模值信號(hào)測(cè)量,根據(jù)測(cè)量結(jié)果選取諧振峰分布集中的頻帶作為檢測(cè)頻段,確定采樣點(diǎn)數(shù)和采樣頻率。在選定的檢測(cè)頻段內(nèi)對(duì)氧化前后的涂層試樣分別進(jìn)行電阻抗模值信號(hào)測(cè)量。最后根據(jù)電阻抗信號(hào)測(cè)量結(jié)果,計(jì)算出氧化損傷識(shí)別指數(shù)RMSD,對(duì)形成熱生長(zhǎng)氧化層進(jìn)行判定。本方法具有100%無損檢測(cè)的優(yōu)點(diǎn),成本低,效率高,操作方便,易于實(shí)用化,具有較大的經(jīng)濟(jì)效益和社會(huì)效益。