本發(fā)明提出了一種基于近紅外光譜分析的水稻葉片含水率快速無損檢測電路、裝置及方法。本發(fā)明利用光照射水稻葉片表面,光的一部分被葉片反射,另一部分透過葉片。隨著光波長的增加,光的透入程度有所變化,透射光攜帶有葉片水分的特征信息,通過對透射光的光譜進行分析,建立光譜與含水率關(guān)系的預測模型,以檢測水稻葉片含水率。本發(fā)明的基于近紅外光譜分析的水稻葉片含水率無損檢測裝置及方法可實現(xiàn)水稻葉片含水率快速無損檢測,其檢測速度快、成本低。
聲明:
“基于近紅外光譜分析的水稻葉片含水率快速無損檢測電路、裝置及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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