本發(fā)明是一種基于卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的高效高分辨力缺陷無(wú)損檢測(cè)方法。本發(fā)明通過(guò)超聲相控陣向被測(cè)工件發(fā)射偏轉(zhuǎn)角度為0的平面波,對(duì)發(fā)射的平面波的散射回波數(shù)據(jù)進(jìn)行采集,利用FIR濾波器對(duì)回波數(shù)據(jù)進(jìn)行時(shí)域?yàn)V波,濾除信號(hào)中的隨機(jī)噪聲;基于卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)算法的超聲成像,根據(jù)得到的散射回波信號(hào)進(jìn)行預(yù)處理,然后將預(yù)處理后的信號(hào)作為卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的輸入,對(duì)被測(cè)工件進(jìn)行成像,得到被測(cè)工件的粗掃圖像;基于Sobel算子的缺陷邊緣檢測(cè),利用Canny算子對(duì)最終成像結(jié)果中的亮斑進(jìn)行邊緣提取,從而得到缺陷的位置信息、形狀信息和大小范圍信息。
聲明:
“基于卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的高效高分辨力缺陷無(wú)損檢測(cè)方法” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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