本發(fā)明屬于密封標(biāo)樣的無損檢測(cè)領(lǐng)域,尤其涉及一種密封標(biāo)樣的無損檢測(cè),利用近紅外光譜來
分析檢測(cè)樣品的內(nèi)在品質(zhì)信息,具有通用性和普遍性,且不需要傳統(tǒng)的破壞性的檢測(cè),不對(duì)樣品造成破壞,高效方便,不污染環(huán)境,該方法具有高度的準(zhǔn)確性。
聲明:
“密封標(biāo)樣的無損檢測(cè)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)