本發(fā)明提供一種金屬構(gòu)件表面涂層缺陷的X射線無(wú)損檢測(cè)裝置及方法,屬于涂層缺陷無(wú)損檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域。該裝置包括主機(jī)、支架和控制顯示部分,主機(jī)通過(guò)支架固定,控制顯示部分控制主機(jī)運(yùn)行和支架移動(dòng),并對(duì)探測(cè)信號(hào)進(jìn)行顯示。使用時(shí),首先針對(duì)涂層基底材料的種類進(jìn)行衍射晶面計(jì)算,然后調(diào)整主機(jī),對(duì)待測(cè)部位通過(guò)紅外激光定位,利用嵌入式軟件,獲取衍射圖,根據(jù)衍射圖的顏色或衍射信號(hào)強(qiáng)弱,對(duì)比標(biāo)準(zhǔn)無(wú)缺陷涂層樣件的衍射圖,根據(jù)德拜環(huán)形狀或衍射強(qiáng)弱信息,判定涂層缺陷的貫穿與否或涂層的均勻性。本發(fā)明可檢測(cè)涂層的缺陷,如磕碰劃傷、氣泡、疏松、腐蝕等。本發(fā)明結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,方便攜帶,操作簡(jiǎn)便,檢測(cè)時(shí)間短,探測(cè)器與工件非接觸,不損傷破壞涂層。
聲明:
“金屬構(gòu)件表面涂層缺陷的X射線無(wú)損檢測(cè)裝置及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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