本發(fā)明提供一種文物無(wú)損檢測(cè)裝置,所述裝置包括高光譜獲取單元和高光譜分析單元;所述高光譜獲取單元與高光譜分析單元電連接;其中,所述高光譜獲取單元包括一維高光譜獲取子單元和二維掃描平臺(tái)子單元;所述一維高光譜獲取子單元用于獲取一維文物高光譜數(shù)據(jù);所述二維掃描平臺(tái)子單元用于帶動(dòng)所述一維高光譜獲取子單元平移,將所述一維文物高光譜數(shù)據(jù)組合成二維文物高光譜數(shù)據(jù);所述高光譜分析單元用于分析所述二維文物高光譜數(shù)據(jù)。本發(fā)明提供的一種文物無(wú)損檢測(cè)裝置,獲取文物高光譜數(shù)據(jù)并對(duì)此進(jìn)行分析,為文物領(lǐng)域工作人員提供了一種智能的文物無(wú)損檢測(cè)方案,提高了文物檢測(cè)的可靠性和準(zhǔn)確性,降低了文物毀損的可能性。
聲明:
“文物無(wú)損檢測(cè)裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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