本發(fā)明涉及一種基于導(dǎo)電參數(shù)無(wú)損檢測(cè)導(dǎo)電材料質(zhì)量的方法及裝置,屬于無(wú)損檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域。所述方法為:檢測(cè)時(shí),檢測(cè)裝置和檢測(cè)材料有相對(duì)運(yùn)動(dòng),通過(guò)連續(xù)采集信息和計(jì)算導(dǎo)電參數(shù)來(lái)判定所測(cè)導(dǎo)電材料的質(zhì)量;所述信息包括但不限于電壓、電流、位置,所述信息是連續(xù)信息;所述導(dǎo)電參數(shù)包括電導(dǎo)率和/或?qū)щ娐?,由連續(xù)采集到的電壓信息和所測(cè)區(qū)間材料的尺寸信息計(jì)算得到;將所獲實(shí)際導(dǎo)電參數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)導(dǎo)電參數(shù)進(jìn)行比對(duì),當(dāng)|實(shí)際導(dǎo)電參數(shù)?標(biāo)準(zhǔn)導(dǎo)電參數(shù)|/標(biāo)準(zhǔn)導(dǎo)電參數(shù)大于等于缺陷判斷閾值時(shí),判定所述實(shí)際導(dǎo)電參數(shù)對(duì)應(yīng)區(qū)域存在缺陷,當(dāng)|實(shí)際導(dǎo)電參數(shù)?標(biāo)準(zhǔn)導(dǎo)電參數(shù)|/標(biāo)準(zhǔn)導(dǎo)電參數(shù)小于缺陷判斷閾值時(shí),則判定所述實(shí)際導(dǎo)電參數(shù)對(duì)應(yīng)區(qū)域質(zhì)量合格。
聲明:
“基于導(dǎo)電參數(shù)無(wú)損檢測(cè)導(dǎo)電材料質(zhì)量的方法及裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)