本發(fā)明公開了一種利用光聲干涉成像進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)的方法,所用器件包括泵浦激光器1、透鏡2、檢測(cè)激光器4、分光鏡5、第一全反鏡6、第一光束整形器7、白屏8、第二光束整形器9和第二全反鏡10。利用該方法成像不用掃描,所成像既能反映材料表面的缺陷和均勻性,又能反映材料表面的光致聲波,是材料表面無(wú)損檢測(cè)和光致聲波研究的一種新技術(shù)。
聲明:
“利用光聲干涉成像進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)