本發(fā)明公開了一種復(fù)合絕緣子缺陷無損檢測方法。該方法步驟如下:A)控制掃頻微波信號源發(fā)出入射信號,被物理探頭發(fā)射至待測復(fù)合絕緣子內(nèi),并產(chǎn)生反射信號和透射信號;接收探頭收集該三個(gè)信號并傳送至分析儀進(jìn)行處理;B)分析儀根據(jù)該三個(gè)信號的幅值和相位,進(jìn)行聯(lián)合計(jì)算得到散射參數(shù)S;C)如果已經(jīng)完成一次完整的掃頻檢測則進(jìn)入D),否則調(diào)整掃頻微波信號源的入射信號頻率,并返回A);D)完成一次完整的掃頻檢測后,得到一列散射參數(shù)S,繪制頻率?散射參數(shù)S曲線;E)根據(jù)曲線的變化情況,對待測復(fù)合絕緣子的缺陷進(jìn)行判定和估計(jì)。本發(fā)明能夠根據(jù)復(fù)合絕緣子散射參數(shù)的變化情況,對其狀態(tài)及缺陷進(jìn)行精確高效的診斷。
聲明:
“復(fù)合絕緣子缺陷無損檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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