本發(fā)明提出一種太陽(yáng)電池旁路二極管參數(shù)無(wú)損檢測(cè)方法，能夠在非破壞的情況下獲取太陽(yáng)電池旁路二極管參數(shù)。該檢測(cè)方法包括以下步驟：1)在無(wú)光照條件下，對(duì)太陽(yáng)電池樣品進(jìn)行測(cè)試，獲取其負(fù)IV曲線；2)建立太陽(yáng)電池的等效電路模型，得到太陽(yáng)電池樣品在無(wú)光照條件下的負(fù)IV曲線模型；3)根據(jù)實(shí)測(cè)的負(fù)IV曲線對(duì)建立的負(fù)IV曲線模型的參數(shù)進(jìn)行優(yōu)化，對(duì)IV曲線進(jìn)行擬合；4)優(yōu)化后的負(fù)IV曲線模型中即可體現(xiàn)所要檢測(cè)的旁路二極管D_sh的參數(shù)值。本發(fā)明具有原理簡(jiǎn)單可靠、效率高、成本低、保留樣品完整性的特點(diǎn)，其結(jié)果可以用于太陽(yáng)電池?fù)p傷測(cè)試中，對(duì)太陽(yáng)電池?fù)p傷效應(yīng)分析提供重要數(shù)據(jù)支持。