本發(fā)明涉及一種結(jié)合激光散斑和Kmeans聚類算法的蘋果無損檢測方法,包括:1、采用激光散斑測量方法,獲取N個(gè)蘋果的散斑位移,計(jì)算N個(gè)蘋果的共振頻率;2、采用標(biāo)準(zhǔn)的Kmeans聚類算法,對N個(gè)蘋果的共振頻率進(jìn)行中心聚類計(jì)算;3、獲取待檢測蘋果的共振頻率,根據(jù)步驟2的中心聚類結(jié)果判斷待檢測蘋果的缺陷類別。本發(fā)明具有較強(qiáng)的泛化能力,基于計(jì)算機(jī)視覺的方法只能對預(yù)先標(biāo)注的缺陷類型進(jìn)行檢測,而本發(fā)明對任何能引起蘋果共振頻率變化的缺陷類型都適用。通過選擇高階共振頻率并結(jié)合降噪技術(shù),使得本發(fā)明提出的新方法具有很強(qiáng)的抵抗噪聲能力,適用于環(huán)境不可控的各種實(shí)際工況,這是有別于傳統(tǒng)計(jì)算機(jī)視覺方法的突出優(yōu)點(diǎn)。
聲明:
“結(jié)合激光散斑和Kmeans聚類算法的蘋果無損檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)