本實(shí)用新型涉及檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,公開(kāi)了一種集無(wú)損探傷檢測(cè)和電子元件點(diǎn)料為一體的設(shè)備,包括固定機(jī)架,所述固定機(jī)架內(nèi)部固定連接載物臺(tái)滑軌,所述載物臺(tái)滑軌頂部活動(dòng)連接平板檢測(cè)器,所述平板檢測(cè)器頂部固定連接有載物臺(tái)和載物臺(tái)移動(dòng)電機(jī),所述固定機(jī)架左側(cè)內(nèi)壁固定連接直線滑軌,所述直線滑軌上下兩端均固定連接有絲杠固定座,所述直線滑軌頂部固定連接有Z軸電機(jī),所述Z軸電機(jī)底部設(shè)置有聯(lián)軸器,所述Z軸絲杠右端活動(dòng)連接有X光發(fā)射器。本實(shí)用新型中,當(dāng)對(duì)物料進(jìn)行探傷時(shí),將物料放入載物臺(tái)上表面,通過(guò)X光發(fā)射器發(fā)射X光,對(duì)物料進(jìn)行照射,同時(shí)Z軸電機(jī)工作帶動(dòng)Z軸絲杠旋轉(zhuǎn),使X光發(fā)射器沿著直線滑軌上下移動(dòng),對(duì)物料進(jìn)行探傷操作。
聲明:
“集無(wú)損探傷檢測(cè)和電子元件點(diǎn)料為一體的設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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