本發(fā)明是一種基于超聲平面波成像和時間反轉算子相結合的高分辨缺陷無損檢測方法。本發(fā)明通過超聲線性相控陣向被測工件發(fā)射一組平面波,利用超聲相控陣采集各個平面波的反射回波數據,對回波數據進行時域濾波,濾除信號中的隨機噪聲;通過邊緣提取方法取出掃描圖像中各個缺陷的邊緣信息,作為被測工件內部缺陷的基本信息,基本信息包括缺陷的位置信息、形狀信息和大小范圍信息;利用時間反轉算子的特征向量對缺陷信號進行自動聚焦,在得到的各塊缺陷區(qū)域進行精確成像,對整個被測工件缺陷的進行精確定位。
聲明:
“基于超聲平面波成像和時間反轉算子相結合的高分辨缺陷無損檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)