本申請(qǐng)公開了一種無損檢測(cè)的太赫茲線陣?yán)走_(dá)掃描成像系統(tǒng)及方法,采用多發(fā)多收的一維稀疏線陣,并將波導(dǎo)天線與一維稀疏線陣結(jié)合,通過波導(dǎo)天線縮小一維稀疏線陣中的陣元間距,使得一維稀疏線陣的等效線陣排布更緊湊,從而提高橫向的成像分辨率。同時(shí),通過二維移動(dòng)架驅(qū)動(dòng)波導(dǎo)天線進(jìn)行掃描,可以獲得待檢測(cè)的非介電
復(fù)合材料的三維形貌圖像,同時(shí),還通過預(yù)置的超分辨率圖像重構(gòu)模型對(duì)第一目標(biāo)圖像進(jìn)行重構(gòu),從而可以實(shí)現(xiàn)在較低頻段獲得原本在高頻段才可以獲得的高精度橫向分辨率的圖像,降低了硬件成本,解決了現(xiàn)有技術(shù)中的成像系統(tǒng)對(duì)非介電復(fù)合材料成像的分辨率較低,從而難以準(zhǔn)確地檢測(cè)缺陷的技術(shù)問題。
聲明:
“無損檢測(cè)的太赫茲線陣?yán)走_(dá)掃描成像系統(tǒng)及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)