本實(shí)用新型公開了一種中子無損檢測裝置,包括中子發(fā)射源、底座、屏蔽蓋、中子成像探測器,底座上側(cè)面為樣品放置區(qū),底座中間設(shè)有安裝中子發(fā)射源的腔體,所述的腔體貫穿底座的上側(cè)設(shè)置,所述的屏蔽蓋設(shè)在底座上側(cè),屏蔽蓋可在上下方向進(jìn)行位置的調(diào)節(jié),所述的中子成像探測器設(shè)置在屏蔽蓋的上側(cè);所述的屏蔽蓋為上小下大的錐形管體結(jié)構(gòu),還包括屏蔽管,所述的屏蔽管豎直設(shè)置在屏蔽蓋內(nèi),屏蔽管的上端與屏蔽蓋的上端開口處連接,屏蔽管為可上下伸縮設(shè)置,所述的屏蔽蓋的內(nèi)側(cè)壁上設(shè)有反射調(diào)節(jié)板,反射調(diào)節(jié)板的下端與屏蔽蓋鉸接連接,屏蔽蓋上設(shè)有螺紋孔,所述的螺紋孔上連接有調(diào)節(jié)螺桿,所述的調(diào)節(jié)螺桿與反射調(diào)節(jié)板的上端連接。
聲明:
“中子無損檢測裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)