本發(fā)明公開了一種基于工業(yè)C孔材料的孔隙率檢測(cè)方法,具體為采用工業(yè)CT掃描獲得多孔樣件的DR圖像,然后重建多孔材料的三維模型,通過(guò)VGStudio?MX軟件獲取多孔材料的總體積和孔隙體積,通過(guò)公式孔隙體積/樣品體積x100%得到樣品的孔隙率。
聲明:
“基于工業(yè)CT的多孔材料孔隙率的無(wú)損檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)