本發(fā)明提供了一種太陽(yáng)能電池抗輻照能力無(wú)損檢驗(yàn)方法及裝置，所述方法包括：獲取隨機(jī)子樣太陽(yáng)能電池輻照前短路電流Jsc和輸出電壓處的1/f噪聲幅值B；獲取所述隨機(jī)子樣太陽(yáng)能電池的經(jīng)過(guò)輻照實(shí)驗(yàn)后的短路電流Jsc′；基于Jsc和Jsc′，計(jì)算短路電流漂移量ΔJsc＝Jsc′?Jsc；以噪聲幅值B作為信息參數(shù)，以短路電流漂移量ΔJsc作為輻照性能參數(shù)，建立噪聲幅值B和ΔJsc之間的多元線性回歸方程并計(jì)算線性回歸方程中的系數(shù)向量建立信息參數(shù)B和輻照性能參數(shù)ΔJsc之間的無(wú)損篩選回歸預(yù)測(cè)方程；利用無(wú)損篩選回歸預(yù)測(cè)方程，測(cè)試單個(gè)太陽(yáng)能電池的抗輻照性能，對(duì)同批太陽(yáng)能電池進(jìn)行篩選。本發(fā)明能夠?qū)崿F(xiàn)在對(duì)太陽(yáng)能電池?zé)o損壞的前提下，進(jìn)行對(duì)元器件準(zhǔn)確、高效的抗輻照能力的測(cè)試篩選。