本發(fā)明公開了一種多層聚合物管狀制品層厚無損測量方法,包括(1)求取待檢測層厚的一層或多層材料分別對應的聲阻抗;(2)利用聲阻抗求取超聲波在對應層材料中傳播的聲速;(3)垂直向制品發(fā)射超聲波,記錄超聲檢測探頭分別接收到待檢測層厚的某一層材料上表面和下表面反射回波的時間間隔;(4)利用超聲波在待檢測層厚的某一層中的聲速和該層對應的所述時間間隔,得到該層的厚度,進而得出所有待檢測層厚的一層或多層的層厚。本發(fā)明的多層聚合物管狀制品層厚無損測量方法,通過測量聲阻抗,求得超聲波的傳播聲速,進而結合超聲波測量的時間間隔,求得對應層的層厚,整個過程不需要對管狀制品進行破壞,避免了浪費;且測量精度高,實用性強。
聲明:
“多層聚合物管狀制品層厚無損測量方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯系該技術所有人。
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