本發(fā)明公開了一種電子產(chǎn)品防塵性能無損測試方法,包括以下步驟,干燥處理,將電子產(chǎn)品放置在高溫干燥箱中干燥,然后靜置一段時間取出;電子產(chǎn)品預(yù)處理,對經(jīng)過干燥處理的電子產(chǎn)品進(jìn)行檢查,檢查電子產(chǎn)品中密封圈的硬度、老化程度和形變,并記錄數(shù)據(jù);開啟測試,向砂塵箱中加入砂塵粉和鐵屑粉,將電子產(chǎn)品放入砂塵箱中,砂塵箱的風(fēng)扇通電工作;停止測試,關(guān)閉砂塵箱的風(fēng)扇,等待砂塵完全沉降后打開砂塵箱,取出電子產(chǎn)品。本發(fā)明的優(yōu)點在于砂塵粉中混入鐵屑粉,再將電子產(chǎn)品置于砂塵箱中,砂塵箱進(jìn)行低頻振動,電子產(chǎn)品的磁力能夠吸引鐵屑粉,在振動的作用下鐵屑粉更容易進(jìn)入電子產(chǎn)品內(nèi)部,從而提高防塵測試的效果。
聲明:
“電子產(chǎn)品防塵性能無損測試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)