本發(fā)明公開(kāi)組織工程皮膚構(gòu)建過(guò)程中OCT實(shí)時(shí)無(wú)損監(jiān)測(cè)方法。本發(fā)明通過(guò)OCT實(shí)時(shí)獲取各培養(yǎng)狀態(tài)下人工皮膚模型的二維、三維數(shù)據(jù);提取A?Scan軸向掃描信號(hào)強(qiáng)度曲線數(shù)據(jù),并找到前k+1個(gè)最大峰。根據(jù)相鄰峰間的距離即為對(duì)于組織工程皮膚生物結(jié)構(gòu)厚度的像素?cái)?shù)量,進(jìn)而獲得組織工程皮膚厚度和組織工程皮膚粗糙度。本發(fā)明利用基于OCT強(qiáng)度信號(hào)的自適應(yīng)峰值檢測(cè)方法能夠準(zhǔn)確反映組織工程皮膚的厚度信息,空間分辨厚度分布和表面粗糙度的變化,能客觀有效的反映組織工程皮膚的生長(zhǎng)狀況。
聲明:
“組織工程皮膚構(gòu)建過(guò)程中OCT實(shí)時(shí)無(wú)損監(jiān)測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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