本發(fā)明公開(kāi)了一種試坑浸水試驗(yàn)中土層浸濕無(wú)損連續(xù)探測(cè)方法,包括步驟:一、浸水前試坑內(nèi)打孔取樣;二、布設(shè)高密度測(cè)線;三、獲得浸水前電阻率數(shù)據(jù)并得到對(duì)應(yīng)剖面的電阻率剖面圖;四、獲取浸水過(guò)程中及浸水結(jié)束后電阻率數(shù)據(jù)并得到對(duì)應(yīng)剖面的電阻率剖面圖;五、浸水結(jié)束后試坑內(nèi)打孔取樣;六、數(shù)據(jù)對(duì)比確定土層浸濕范圍、水在非飽和土中的擴(kuò)散速率和土層不同位置的土層含水率數(shù)值。本發(fā)明通過(guò)浸水前和浸水結(jié)束后分別在試坑內(nèi)打一孔取樣,獲得一個(gè)土層含水率數(shù)值對(duì)應(yīng)一個(gè)電阻率數(shù)值的關(guān)聯(lián)對(duì)應(yīng)關(guān)系,通過(guò)不同時(shí)間點(diǎn)高密度電法測(cè)得的試坑內(nèi)外土層不同位置的土層電阻率數(shù)值得到對(duì)應(yīng)土層位置的土層含水率數(shù)值,不必滿試驗(yàn)場(chǎng)地打孔取樣,近似為無(wú)損探測(cè)。
聲明:
“試坑浸水試驗(yàn)中土層浸濕無(wú)損連續(xù)探測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)