本發(fā)明公開(kāi)了一種適用于現(xiàn)場(chǎng)開(kāi)展的復(fù)合絕緣材料老化無(wú)損測(cè)量方法,涉及復(fù)合絕緣材料技術(shù)領(lǐng)域,包括:S1、對(duì)目標(biāo)復(fù)合絕緣材料進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試,收集的原始特征參量;S2、將測(cè)量到的原始特征參量作為輸入量,輸入已訓(xùn)練好的BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò),根據(jù)BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)輸出的結(jié)果得到對(duì)目標(biāo)復(fù)合絕緣材料的老化評(píng)估。本發(fā)明從絕緣材料化學(xué)結(jié)構(gòu)、電氣性能、物理變化的角度進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量,并通過(guò)訓(xùn)練好的BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析,能夠?qū)?fù)合絕緣材料的老化狀態(tài)進(jìn)行定量分析,精度高且實(shí)現(xiàn)現(xiàn)場(chǎng)無(wú)損測(cè)量。
聲明:
“適用于現(xiàn)場(chǎng)開(kāi)展的復(fù)合絕緣材料老化無(wú)損測(cè)量方法” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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