本發(fā)明公開了一種無損探傷測(cè)厚儀,控制電腦通過A/D轉(zhuǎn)換器控制X光射線源發(fā)射X光射線,X光線發(fā)射面外活動(dòng)設(shè)有待測(cè)物夾具,待測(cè)物可固定定位于待測(cè)物夾具中,待測(cè)物夾具的軸向中心線與X光線發(fā)射面平行,數(shù)字平板圖像產(chǎn)生器設(shè)于待測(cè)物夾具背離X光射線源的一面外,數(shù)字平板圖像產(chǎn)生器可捕捉穿過待測(cè)物后的X光射線并形成圖像,數(shù)字平板圖像產(chǎn)生器通過圖像采集卡將圖像傳輸?shù)娇刂齐娔X,控制電腦將該圖像顯示在圖形界面顯示屏上,實(shí)際操作時(shí)利用已知尺寸的物體來界定圖形界面顯示屏每一像素的尺寸,通過待測(cè)物被捕捉的圖形的像素面陣的明暗邊緣,來精確換算出待測(cè)物的尺寸及各邊緣間的厚度,從而得到所需的厚度。
聲明:
“無損探傷測(cè)厚儀” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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