一種LED
芯片的無損測試方法,包括以下步驟:(1)制備電極導(dǎo)電膜,該電極導(dǎo)電膜包括透明絕緣基底及設(shè)置在基底上的透明導(dǎo)電槽;(2)將需要測試的LED芯片表面覆蓋上電極導(dǎo)電膜,使LED芯片的正負(fù)電極位于對應(yīng)的透明導(dǎo)電槽內(nèi);(3)將自動(dòng)測試機(jī)的兩個(gè)探針扎到電極導(dǎo)電膜上接觸正負(fù)電極位置區(qū)域;(4)測試完畢之后將電極導(dǎo)電膜去除。該測試方法利用測試探針與LED芯片電極間接接觸代替直接接觸,在芯片電極表面覆蓋一層電極導(dǎo)電膜作為保護(hù),解決了LED芯片測試中的針痕問題,實(shí)現(xiàn)無損傷測試,對電極進(jìn)行保護(hù),同時(shí)該方法操作簡單、增加了測試針的使用頻次,降低測試成本。
聲明:
“LED芯片的無損測試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)