本發(fā)明公開了一種無(wú)損測(cè)量納米顆粒熱膨脹系數(shù)的方法,其特征在于,將納米顆粒材料分散在基質(zhì)材料中,然后用X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)譜測(cè)量分散在基質(zhì)材料中的最鄰近的納米顆粒原子間的距離為r,相鄰原子間距離的平方相對(duì)位移σ2,相鄰原子間距離的立方相對(duì)位移C3,根據(jù)公式(見圖)計(jì)算得納米顆粒的熱膨脹系數(shù),公式中,r為最鄰近的原子間距離,R為同一配位層中的所有原子到中心原子之間的平均距離,T為測(cè)量溫度,σ2=C2=2>為相鄰原子間距離的平方相對(duì)位移,C3=3>為相鄰原子間距離的立方相對(duì)位移,,θE為納米顆粒愛因斯坦溫度。本發(fā)明方法可用于測(cè)量納米顆粒熱膨脹系數(shù)。
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“無(wú)損測(cè)量納米顆粒熱膨脹系數(shù)的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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