本發(fā)明屬于測量技術領域,具體為一種薄壁殼體無損綜合測量裝置。該測量裝置包括:傳感器、運動機構(gòu)、基座、龍門架;其中,傳感器采用雙頭精密位移傳感器,包括上測頭和下測頭的雙測頭測量;運動機構(gòu)為七自由度機構(gòu),包括四個移動自由度機構(gòu)以及三個轉(zhuǎn)動自由度機構(gòu);該裝置針對變曲率薄壁殼體,通過更換傳感器,以用于不同的測量需求,包括,內(nèi)輪廓測量、外輪廓的測量、全局表面缺陷的測量等,可實現(xiàn)大尺寸、高陡度、深內(nèi)腔的薄壁殼體的形位誤差(內(nèi)外表面形狀誤差、壁厚)及全局表面缺陷的高精度測量。
聲明:
“薄壁殼體無損綜合測量裝置” 該技術專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)