本發(fā)明公開了一種M積分的無損測量方法,通過間接測量在外加載荷的作用下由于微缺陷群的存在而引起的材料系統(tǒng)單位厚度總勢能的變化量U,再根據(jù)M=2U關(guān)系得到表征該微缺陷群損傷程度的參量M積分的方法,不但適用裂紋對象寬泛,而且只需要簡單的測量施加的載荷及施加載荷點(diǎn)的位移即可。其克服了現(xiàn)有技術(shù)需針對不同的裂紋形式重新推導(dǎo)計(jì)算公式、選擇特殊的積分路徑、還要借助于應(yīng)變片測量應(yīng)變場等缺陷。可應(yīng)用于航空、航天及各種可能發(fā)生結(jié)構(gòu)材料各種形式的損傷及劣化的機(jī)械結(jié)構(gòu)領(lǐng)域。
聲明:
“М積分的無損測量方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)