本實(shí)用新型公開一種激光器LIV高溫性能的無(wú)損測(cè)試裝置,包括烤盤、位于烤盤上方的導(dǎo)熱支撐架以及裝配于導(dǎo)熱支撐架內(nèi)的若干個(gè)測(cè)試單元,該烤盤產(chǎn)生熱量并通過導(dǎo)熱支撐架往測(cè)試單元中的激光器傳遞熱量以使之達(dá)到待測(cè)試溫度,每一測(cè)試單元均具有單獨(dú)的傳導(dǎo)電路板以及分別供激光器管座插置和供電線及其插頭插置的激光器插座和供電插座。與現(xiàn)有技術(shù)相比,本實(shí)用新型在對(duì)激光器進(jìn)行高溫性能測(cè)試時(shí),可使激光器迅速致熱,且無(wú)需移動(dòng)激光器,以保證激光器在高溫環(huán)境下被測(cè)試,且測(cè)試完畢后激光器在外觀上不會(huì)受到任何損傷。
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“激光器LIV高溫性能的無(wú)損測(cè)試裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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