本發(fā)明涉及一種禾本科作物穗部生長發(fā)育的無損監(jiān)測方法,其中,方法包括:S1、針對活體的禾本科作物,獲取指定時間段內(nèi)穗部各方位的CT投影圖像;S2、對所有的CT投影圖像進行重建處理,獲得多張CT斷層圖像;S3、根據(jù)穗部分析策略,對CT斷層圖像進行單穗/穗粒的提取處理,獲取單穗的特征數(shù)據(jù)和/或穗粒的特征數(shù)據(jù)。本發(fā)明的方法解決了現(xiàn)有技術中無法獲取禾本科作物穗部3D形狀的技術缺陷,實現(xiàn)獲取穗部三維構象以提取谷粒性狀的目的。
聲明:
“禾本科作物穗部生長發(fā)育的無損監(jiān)測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)