本發(fā)明提供了一種X射線?可見光雙模式成像無損提取水稻稻穗性狀的方法，通過雙模式成像系統(tǒng)同步獲取稻穗反射光表圖像及透射光圖像，應用橢圓檢測、分水嶺分割、細化處理與霍夫變換提取稻穗穗頸節(jié)、穗粒輪廓、米粒輪廓、穗分支骨架等特征，通過圖像配準得到融合圖像并建立稻穗產量性狀的數學表征：采用稻穗谷?？梢姽夥指顖D像連通區(qū)域的標記個數表征總穗粒數；采用配準的米粒面積與谷粒輪廓面積之比表征穗粒的灌漿程度從而區(qū)分實粒、癟粒，進行有效穗判定并計算結實率；通過標準樣品標定，基于線性回歸分析、最小二乘法，結合穗粒區(qū)域面積積分建立千粒重數學模型；通過稻穗骨架路徑計算穗長、一次枝梗數、一次枝梗平均長度及二次枝梗數，用粒數與穗長之比表征著粒密度。本發(fā)明的特點在于：不經過脫粒、不經過分離實粒癟粒的情況下即可快速、準確獲取稻穗產量性狀，為雙模式成像在稻穗產量性狀無損解析中的應用提供了一條可行途徑。
聲明：
“X射線-可見光雙模式成像無損提取水稻稻穗性狀” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究，如用于商業(yè)用途，請聯系該技術所有人。
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編輯：管理員
來源：中冶有色技術網
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2025年03月28日 ~ 30日 
