本發(fā)明提供了一種光電耦合器抗輻照能力無損篩選方法及裝置，方法包括：獲取作為隨機(jī)子樣的光電耦合器輻照前的電流傳輸比和1/f噪聲幅值；獲取作為隨機(jī)子樣的光電耦合器經(jīng)過輻照后的電流傳輸比；計(jì)算輻照前后的電流傳輸比變化量；對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行預(yù)處理，以噪聲幅值作為信息參數(shù)，以電流傳輸比變化量作為輻照性能參數(shù)，建立多元線性回歸方程，并計(jì)算線性回歸方程中的系數(shù)向量；基于系數(shù)向量，建立所述信息參數(shù)和輻照性能參數(shù)之間的無損篩選回歸預(yù)測(cè)方程；利用無損篩選回歸預(yù)測(cè)方程，預(yù)測(cè)單個(gè)光電耦合器件的抗輻照性能，對(duì)同批其他光電耦合器器件進(jìn)行篩選。本發(fā)明能夠?qū)崿F(xiàn)在對(duì)光電耦合器無損壞的前提下，進(jìn)行對(duì)元器件準(zhǔn)確、高效的抗輻照能力的測(cè)試篩選。