本發(fā)明提供了一種肖特基二極管抗輻照能力無損篩選方法及裝置,方法包括:獲取輻照前作為隨機(jī)子樣的肖特基二極管的反向漏電流、反向擊穿電壓和噪聲電壓功率譜幅值;獲取經(jīng)過輻照后的作為隨機(jī)子樣的肖特基二極管的反向漏電流;計(jì)算輻照前后的反向漏電流退化量;以反向擊穿電壓和噪聲電壓功率譜幅值作為信息參數(shù),以反向漏電流退化量作為輻照性能參數(shù),建立多元線性回歸方程,估計(jì)線性回歸方程中的系數(shù)向量;建立無損篩選回歸預(yù)測方程;利用所述無損篩選回歸預(yù)測方程,預(yù)測單個(gè)器件的抗輻照性能。本發(fā)明能夠?qū)崿F(xiàn)在對(duì)肖特基二極管無損壞的前提下,進(jìn)行對(duì)元器件準(zhǔn)確、高效的抗輻照能力的測試篩選。
聲明:
“肖特基二極管抗輻照能力無損篩選方法及裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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