本發(fā)明公開了一種基于擴(kuò)展有限元法的多缺陷群無損識(shí)別方法,由正分析和反分析組成。擴(kuò)展有限元法計(jì)算網(wǎng)格獨(dú)立于結(jié)構(gòu)內(nèi)部的不連續(xù)面,因此缺陷幾何變化時(shí)無需重構(gòu)計(jì)算網(wǎng)格,故擴(kuò)展有限元法用于正分析,以節(jié)約時(shí)間。反分析由三步組成:(i)以稀疏的測(cè)點(diǎn)確定包含缺陷群的子域,縮小搜索域;(ii)在子域內(nèi)添加測(cè)點(diǎn),對(duì)缺陷群進(jìn)行逐個(gè)識(shí)別以確定群內(nèi)缺陷的大致位置與大?。?iii)以第二部的結(jié)果作為初始解,加速收斂至缺陷的真實(shí)形態(tài)。本發(fā)明能在缺陷數(shù)量未知的前提下對(duì)多缺陷群進(jìn)行準(zhǔn)確識(shí)別,且能顯著地減少測(cè)點(diǎn)用量和迭代次數(shù)。
聲明:
“基于擴(kuò)展有限元法的多缺陷群無損識(shí)別方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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