本發(fā)明公開了一種密封面缺陷三維檢測(cè)方法,包括:獲取密封面上帶劃痕的圖片;根據(jù)帶劃痕的圖片獲取劃痕的長(zhǎng)度和初始寬度;根據(jù)初始寬度確定掃描路徑;根據(jù)掃描路徑規(guī)劃掃描軌跡;沿掃描軌跡對(duì)劃痕進(jìn)行掃描以確定劃痕的深度及最終寬度。與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明的密封面缺陷三維檢測(cè)方法先獲取密封面上所有帶劃痕的圖片,從而基本上杜絕了細(xì)微劃痕的漏檢情況;之后根據(jù)該圖片獲取劃痕長(zhǎng)度及初始寬度,再根據(jù)初始寬度確定掃描路徑,繼而根據(jù)掃描路徑規(guī)劃掃描軌跡,最后沿掃描軌跡對(duì)劃痕進(jìn)行掃描以確定劃痕的深度及最終寬度,從而實(shí)現(xiàn)了對(duì)密封面缺陷的三維檢測(cè),同時(shí)提高了測(cè)量精度,且實(shí)現(xiàn)了對(duì)密封面三維缺陷的尺寸量化檢測(cè)。
聲明:
“密封面缺陷三維檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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