本發(fā)明公開(kāi)了一種超導(dǎo)基帶表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng),包括,光源,其輸出激光并照射至超導(dǎo)基帶的待檢測(cè)表面;圖像采集單元,其連續(xù)采集激光被待檢測(cè)表面反射后的反射光圖像;圖像處理單元,其接收?qǐng)D像采集單元輸出的反射光圖像,對(duì)所述反射光圖像進(jìn)行處理,輸出超導(dǎo)基帶的表面缺陷程度。本發(fā)明的超導(dǎo)基帶表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng),用于超導(dǎo)基帶拋光前后對(duì)其進(jìn)行表面缺陷程度的非接觸式無(wú)損傷、在線、長(zhǎng)距離、連續(xù)檢測(cè),為下道生產(chǎn)工藝提供可靠的基帶表面質(zhì)量報(bào)告,提高生產(chǎn)高溫超導(dǎo)帶材的合格率;同時(shí),還可以用于確定原帶質(zhì)量對(duì)拋光效果的影響。
聲明:
“超導(dǎo)基帶表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)及其檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)