本發(fā)明公開(kāi)了一種缺陷檢測(cè)方法、檢測(cè)圖像生成方法、系統(tǒng)及存儲(chǔ)設(shè)備,所述
復(fù)合材料缺陷檢測(cè)方法包括:采集復(fù)合材料樣品各掃描點(diǎn)的太赫茲時(shí)域透射脈沖;對(duì)各掃描點(diǎn)的太赫茲時(shí)域透射脈沖進(jìn)行分析計(jì)算,生成絕緣材料樣品的幅值灰度圖和對(duì)應(yīng)的時(shí)間灰度圖;對(duì)幅值灰度圖和對(duì)應(yīng)的時(shí)間灰度圖進(jìn)行圖像融合,生成絕緣材料樣品的缺陷檢測(cè)圖像。本發(fā)明可以提高缺陷檢測(cè)圖像的對(duì)比度和清晰度,應(yīng)用于電力復(fù)合套管絕緣材料的缺陷檢測(cè)中能夠快速、準(zhǔn)確地實(shí)現(xiàn)對(duì)電力復(fù)合套管絕緣材料內(nèi)部缺陷的無(wú)損檢測(cè)。
聲明:
“缺陷檢測(cè)方法、檢測(cè)圖像生成方法、系統(tǒng)及存儲(chǔ)設(shè)備” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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