本發(fā)明提供了一種用于CMOS圖像傳感器單粒子效應(yīng)檢測的設(shè)備及檢測方法,本發(fā)明采用脈沖激光單粒子微束試驗,可以準確定位到不同功能模塊。根據(jù)器件版圖工藝結(jié)構(gòu),對CMOS圖像傳感器不同子電路逐點掃描,實時監(jiān)測、記錄、識別器件不同區(qū)域發(fā)生單粒子效應(yīng)時圖像異常表現(xiàn)形式,獲得單粒子效應(yīng)異常圖像特征庫,建立CMOS圖像傳感器單粒子效應(yīng)表征技術(shù);本發(fā)明實現(xiàn)了在線實時識別不同的CMOS圖像傳感器單粒子效應(yīng),可在線實時檢測CMOS圖像傳感器的單粒子瞬態(tài)、單粒子翻轉(zhuǎn)、單粒子功能中斷和單粒子鎖定;本發(fā)明可實現(xiàn)圖像實時無損傳輸,解決圖像在傳輸過程中諸如噪聲干擾、卡屏等問題。
聲明:
“用于CMOS圖像傳感器單粒子效應(yīng)檢測的設(shè)備及檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)