本發(fā)明屬于電磁無損檢測領(lǐng)域,并公開了一種基于缺陷漏磁場源與主動探測磁源的電磁檢測方法。其包括(a)將待檢測構(gòu)件磁化, 使得該待檢測構(gòu)件在其缺陷處形成漏磁場,該漏磁場是以該缺陷為圓心,半徑為r1的微磁源空間域;(b)將設(shè)置有磁敏元件的探測磁源在缺陷的上方掃掠經(jīng)過,使得漏磁場與探測磁源自身的磁場進(jìn)行磁疊加形成磁擾動,其中,探測磁源自身的磁場是以該探測磁源為圓心,半徑為r2的探測磁空間域;(c)在距離待檢測構(gòu)件表面r1+r2的提離范圍內(nèi)磁敏元件拾取磁擾動,從而完成缺陷的電磁檢測。通過本發(fā)明,實現(xiàn)主動式檢測,同時增大檢測提離距離,避免傳感器緊貼檢測時的接觸磨損及抖動問題,也實現(xiàn)在同一提離檢測狀態(tài)下檢測信號的增大。
聲明:
“基于缺陷漏磁場源與主動探測磁源的電磁檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)