本發(fā)明屬于無(wú)損檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,公開了一種用于磁粉檢測(cè)縱向磁化系統(tǒng)性能檢查的試塊,所述試塊為條狀長(zhǎng)方體,橫截面為正方形,在所述條狀長(zhǎng)方體某一表面以下等距離埋藏有五個(gè)不同深度的橫通孔人工缺陷,提高磁粉檢測(cè)質(zhì)量的可靠性。
聲明:
“用于磁粉檢測(cè)縱向磁化系統(tǒng)性能檢查的試塊” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)