本發(fā)明涉及測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種高濃度納米顆粒粒徑的測(cè)量方法及其檢測(cè)裝置。本發(fā)明所述方法能有效進(jìn)行高濃度樣品測(cè)量,對(duì)樣品無(wú)干擾、無(wú)損傷,能快速、準(zhǔn)確測(cè)量納米顆粒粒徑,所述裝置結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單緊湊,小型實(shí)用,適合于現(xiàn)場(chǎng)或在線監(jiān)測(cè)的優(yōu)點(diǎn)。
聲明:
“高濃度納米顆粒粒徑的測(cè)量方法及其檢測(cè)裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)