本實(shí)用新型公開一種非接觸式檢測設(shè)備,其包括檢測裝置、X軸機(jī)械手、Y軸移載平臺及下部適配板部件;Y軸移載平臺的下端固定于下部適配板部件且其上設(shè)置有可沿Y軸方向移動的Y軸聯(lián)接座,Y軸聯(lián)接座的上端與X軸機(jī)械手的下端固定連接;X軸機(jī)械手上設(shè)置有可沿X軸方向移動的X軸聯(lián)接座,檢測裝置的一端固定X軸聯(lián)接座,另一端分別設(shè)置有可沿Z軸方向移動的視覺檢測機(jī)構(gòu)及位移檢測機(jī)構(gòu)。本實(shí)用新型用于對拋光后的表面進(jìn)行圖像采集及測量,獲取拋光后表面缺陷的尺寸信息,為修復(fù)提供數(shù)據(jù)支持,適于精密表面無損及在線三維檢測;且其結(jié)構(gòu)緊湊,減少設(shè)備整體尺寸及體積,實(shí)現(xiàn)檢測設(shè)備的小型化及便攜化,使用時(shí)占據(jù)較小的使用空間,適用于多種工作環(huán)境。
聲明:
“非接觸式檢測設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)