本發(fā)明公開(kāi)了一種電子器件可靠性的檢測(cè)方法及系統(tǒng),該方法包括建立電子器件的環(huán)境敏感參數(shù)與性能參數(shù)偏移量之間的預(yù)測(cè)模型,測(cè)量所述電子器件的環(huán)境敏感參數(shù),根據(jù)所述電子器件的環(huán)境敏感參數(shù)測(cè)量值和所述預(yù)測(cè)模型預(yù)測(cè)所述電子器件的性能參數(shù)偏移量,由所述性能參數(shù)偏移量確定所述電子器件的可靠性,通過(guò)以上技術(shù)方案,能夠?qū)崿F(xiàn)快速無(wú)損地對(duì)電子器件進(jìn)行逐個(gè)檢測(cè)。
聲明:
“電子器件可靠性的檢測(cè)方法及系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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